對話技術“大牛”，電子產業走向何方？
在剛剛結束的MWC2019展會上，如果說哪一個話題最受關注，毫無疑問就是5G。隨著商用進程的深化，5G將推動物聯網、云計算、大視頻、大數據及AI等關聯領域裂變式發展。對于從業(ye)人員而言(yan)，5G已經成為(wei)“必修課”！
2019年4月1日至3日，電子設計創新大會（EDI CON CHINA）將在北京國家會議中心（CNCC）舉辦。為期3天的(de)會議(yi)，涵括5G/先(xian)進通信、電(dian)源完整性、仿(fang)真與建模、測(ce)試與測(ce)量、毫米波、放大器設計、低功耗/物聯網(wang)、前(qian)端設計、射頻/微波設計和信號完整性等主題。
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其中，第(di)一天會(hui)議(yi)(yi)以5G為主題(ti)，SteveSandler，世界領先的電(dian)源完整性專(zhuan)家、Picotest創始人兼CTO；Kailash Narayanan，是德科(ke)技全球副(fu)總裁(cai)(cai)；Alexander Pabst，羅德與施瓦茨副(fu)總裁(cai)(cai)等多外重(zhong)量級嘉賓也將(jiang)出(chu)席本(ben)次會(hui)議(yi)(yi)。
行業大牛現場分享
Steve Sandler, Founder and CTO,Picotest
演講主題：“射頻(pin)、微波和高(gao)速(su)電路中的功(gong)率相關因(yin)素(su)”
演講概要：作為工程(cheng)師，我(wo)(wo)(wo)們的(de)(de)(de)(de)任務是為我(wo)(wo)(wo)們的(de)(de)(de)(de)射(she)頻(pin)、微(wei)波和高速(su)數字電(dian)路實(shi)現最(zui)佳性能。然(ran)而，我(wo)(wo)(wo)們經常設計(ji)、仿真(zhen)和測(ce)量性能，而不(bu)考慮電(dian)源對這(zhe)些(xie)電(dian)路的(de)(de)(de)(de)影響。考慮電(dian)源影響意味著什么(me)呢？本演講著眼于電(dian)源對射(she)頻(pin)、微(wei)波和高速(su)數字系統的(de)(de)(de)(de)多種影響，解(jie)釋了(le)我(wo)(wo)(wo)最(zui)喜(xi)歡的(de)(de)(de)(de)仿真(zhen)、測(ce)量和排除這(zhe)些(xie)復雜問題的(de)(de)(de)(de)技術之一。
Kailash Narayanan, Global VP of KeysightWireless Device Organization
演講主題：“用于網絡設備制造、芯片(pian)組和(he)設備的5G測(ce)試和(he)測(ce)量技術”
演講概要：隨著3GPP第15版的發布，無線(xian)通信行業已開始(shi)大規(gui)模(mo)生產(chan)5G設備、器件并開始(shi)初期的部署。本演講將(jiang)探討未來的主要(yao)市場趨勢和(he)挑戰(zhan)，并概(gai)述測(ce)試和(he)測(ce)量解決方(fang)案。
Alexander Pabst, Vice PresidentSystems and Projects, Rohde & Schwarz
演講主題：“5G新無(wu)線(xian)電(dian)測試(shi)和測量挑(tiao)戰以及應(ying)對方法”
演講概要：本(ben)演講將討(tao)(tao)論5G NR OTA挑戰，并概(gai)述輻射測試環境的解決方案(an)，以(yi)優化技術的可行性、測試次數/周期和投資/維護需求。將討(tao)(tao)論不同的幾(ji)何形(xing)狀和外形(xing)因(yin)素(su)、頻(pin)率范圍和環境條件，以(yi)反(fan)映3GPP、CTIA、ETSI等相關標準化組(zu)織的最新進展。
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